Вы нашли то, что искали?
Главная Разделы

Добавить страницу в закладки ->

3.2. Метод половинного разбиения. Методы контроля и диагностики систем и сетей связи

Лекции по Методам контроля и диагностики систем и сетей связи   

3. Основные методы построения алгоритмов поиска неисправностей

3.2. Метод половинного разбиения

Этот метод часто используется в разработке алгоритмов поиска неисправностей в РЭА с последовательно соединенными элементами. Первым для контроля выбирается параметр, делящий всю схему пополам. При положительном результате контроля (сигнал на выходе элемента находится в допуске) следующим для контроля выбирается элемент, делящий неисправную часть схемы пополам и так далее до определения неисправного элемента (блока, узла). Такой алгоритм возможен в том случае, когда вероятности состояний P(Si) одинаковы для всех элементов, стоимости контроля выходных параметров Zi также одинаковы.

В том случае, когда вероятности состояний P(Si) для функциональных элементов неодинаковы, тогда вероятности необходимо первым контролировать такой параметр Zk  , который делит ОД на части, вероятности состояния которых близки к 0,5.

Неопределенность состояния ОД до контроля оценивается величиной энтропии

            N

H0 = - ∑ P(Si)*log2 P(Si) = log2 N                                                   (13)

           i=1

Неопределенность состояния ОД при контроле параметра Zk  будет:

H(Zk) = - (Pk *log2 Pk + (1- Pk) *log2 (1- Pk))  ,                                   (14)

                            N

где    Pk = ∑ P(Si) ,  i = 1, 2, 3, …

                 i=1

Величина H(Zk) будет максимальна, если разность (Pk – 0,5) минимальна.

После контроля параметра (Zk) ОД будет разделен на две части: первая содержит K, а вторая  (N - K) элементов. При выборе очередного параметра для контроля необходимо вероятности состояний в каждой из этих частей пронормировать, пересчитать по формулам:

                                        k

P'(Si) =  P(Si)/ ∑ P(Si)   ,                      i = 1, 2, 3, … k                     (15)

                                     i = 1

                                           N

P" (Si) =  P(Si)/ ∑ P(Si)  ,                     i = k + 1, k + 2, … , N          (16)

                              i=k+1

При этом

  k                                                                            N

∑ P' (Si) = 1             и                ∑ P" (Si) = 1.                                    (17)

               i = 1                                                                         i=k+1

Тогда вторым параметром выбирается Zll , который делит одну из частей на две, вероятности которых

    l

 ∑P" (Si) =  0,5                                                                                    (18)

 i=1

Такое деление продолжается до тех пор, пока состояние ОД не будет определено с заданной глубиной.

Метод половинного разбиения применим и для случая, когда в ОД неисправно несколько элементов.


Последние изменения страницы: 26.01.2018






© Банк лекций Siblec.ru
Электронная техника, радиотехника и связь. Лекции для преподавателей и студентов. Формальные, технические, естественные, общественные, гуманитарные, и другие науки. Карта сайта

Новосибирск, Екатеринбург, Москва, Санкт-Петербург, Нижний Новгород, Ростов-на-Дону, Чебоксары.

E-mail: formyneeds@yandex.ru